在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

A . A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大 B . B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大 C . C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小 D . D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

时间:2022-10-12 10:49:12 所属题库:中级无损检测技术资格人员题库

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