为保证定时散射比浊分析所获取的信号峰值为被检抗原产生，设计时采用（）

A . 被测定抗原量过高，应稀释重新测定 B . 被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . 第一峰值信号是由全部待测抗原产生 D . 第一峰值信号是由部分待测抗原产生 E . 第一峰值信号是由全部抗体产生

A . 免疫扩散与散射比浊分析相结合的技术 B . 免疫吸附与散射比浊分析相结合的技术 C . 免疫沉淀与散射比浊分析相结合的技术 D . 区带免疫分析与散射比浊相结合的技术 E . 凝集与散射比浊分析相结合的技术

A . 结果可靠 B . 抗原过量 C . 试剂错误 D . 仪器故障 E . 以上均错

A . A.被测定抗原量过高，应稀释重测 B . B.被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . C.第一次速率峰值信号是由全部的待测抗原产生 D . D.第一次速率峰值信号不是由部分的待测抗原产生 E . E.以上均不对

A . 检测体系抗原保持过量 B . 检测体系抗体保持过量 C . 充分稀释待测样品 D . 具足够强的发射光 E . 足够强的照射光

A . 抗原过剩，出现前带现象 B . 抗原过剩，出现后带现象 C . 抗体过剩，出现前带现象 D . 抗体过剩，出现后带现象 E . 抗原抗体均过剩，出现带现象

A . 抗原过量（样本过量） B . 抗体过量 C . 试剂过期 D . 仪器故障 E . 以上均错

A . 检测体系抗原保持过量 B . 检测体系抗体保持过量 C . 充分稀释待测样品 D . 具足够强的发射光 E . 足够强的照射光

A . 进行全量样本检测 B . 将待测标本稀释后重新测定 C . 照常进行反应 D . 测量结果更可靠 E . 增加抗体的浓度后重新检测

A . A．所检测的蛋白质类型不同 B . B．所选用的检测抗体不同 C . C．光学原理不同 D . D．抗原过量检测的设计不同 E . E．抗体过量的量不同

A . 被测定抗原量过高，应稀释重测 B . 被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . 第一次速率峰值信号是由全部的待测抗原产生 D . 第一次速率峰值信号是由部分的待测抗原产生 E . 以上均不对

A . 抗原过量（样本过量） B . 试剂过期 C . 抗体过量 D . 仪器故障 E . 以上均错

A . A．进行全量样本检测 B . B．将待测标本稀释后重新测定 C . C．照常进行反应 D . D．测量结果更可靠 E . E．增加抗体的浓度后重新检测

A . A．被测定抗原量过高，应稀释重测 B . B．被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . C．第一次速率峰值信号是由全部的待测抗原产生 D . D．第一次速率峰值信号不是由部分的待测抗原产生 E . E．以上均不对

A . A.在抗原抗体预反应阶段进行，观察散射光信号值是否在预设阈值内 B . B.在抗原抗体反应的第二阶段进行，观察散射光信号值是否在预设阈值内 C . C.在抗原抗体反应的最佳阶段进行，观察散射光信号值是否在预设阈值内 D . D.在抗原抗体反应完成后加入标准抗原 E . E.在抗原抗体反应完成后加入标准抗体

A . A．抗原过量检测 B . B．抗体过量检测 C . C．平行管检测 D . D．本底的检测 E . E．阈值限定

A . 结果可靠 B . 抗原过量 C . 试剂错误 D . 仪器故障 E . 以上均错

A . 被测定抗原量过高，应稀释重测 B . 被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . 第一次速率峰值信号是由全部的待测抗原产生 D . 第一次速率峰值信号不是由部分的待测抗原产生 E . 以上均不对

A . 所检测的蛋白质类型不同 B . 所选用的检测抗体不同 C . 光学原理不同 D . 抗原过量检测的设计不同 E . 抗体过量的量不同

A . 结果准确 B . 被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . 第一峰值信号是由全部待测抗原产生 D . 第一峰值信号是由部分待测抗原产生 E . 第一峰值信号是由全部抗体产生

A . A．被测定抗原量过高，应稀释重测 B . B．被测定抗原量太低，应取上一个稀释浓度 C . C．第一次速率峰值信号是由全部的待测抗原产生 D . D．第一次速率峰值信号是由部分的待测抗原产生 E . E．以上均不对

A . A．第一次检测的信号值 B . B．第二次检测的信号值 C . C．第一次检测的信号值加上第二次检测的信号值 D . D．第二次检测的信号值减去第一次检测的信号值 E . E．以上均不对

A . 第一次检测的信号值 B . 第二次检测的信号值 C . 第一次检测的信号值加上第二次检测的信号值 D . 第二次检测的信号值减去第一次检测的信号值 E . 以上均不对