检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

A . 正确 B . 错误

时间:2022-10-15 16:43:07 所属题库:高级钢轨探伤工题库

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