采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。
采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）
使用近红外光谱分析仪时，检测器与光源置于待测样品同一侧时所采用的分析方法是（）。
玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
在X荧光仪分析铁水时，我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
在X荧光仪分析铁水时，我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。
采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。
玻璃熔片X荧光仪分析，我们采用的混合熔剂是四硼酸锂和碳酸锂按（）比例称取混匀。
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）
X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了（）。
目前原子荧光仪主要为非色散系统的原子荧光仪。由于没有单色器，为了防止实验室光线的影响，一般采用工作波段为（）的光电倍增管。
采用WJ-B（或WJ-A）数字化荧光仪对岩屑样品进行荧光检测时，所需岩样质量为1g，氯仿10ml浸泡3min再作检测。（）
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
采用WJ£B（或WJ£A)数字化荧光仪对岩屑样品进行荧光检测时，所需岩样质量为1g，氯仿10ml浸泡3min再作检测。（)
