使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()
A . 小于实际尺寸 B . 接近声束宽度 C . 稍大于实际尺寸 D . 等于晶片尺寸
接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法。
A . A.6dB B . B.相对灵敏度 C . C.绝对灵敏度 D . D.12dB
组合臂架法的基本原理是:利用四连杆机构的工作原理,使组合臂架端点在变幅过程中()的轨迹移动,从而使载重在变幅过程中的高度位置不变或变化很小。
A . 沿水平或接近垂直 B . 沿垂直或接近水平 C . 沿水平或接近水平 D . 全部错误
接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。
接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。
什么是半波高度法?若发现一缺陷有多个波峰,该缺陷的长度应如何测定?
半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
A . 正确 B . 错误
半波高度法 名词解释