晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A . A、垂直法 B . B、斜射法 C . C、表面波法

时间:2022-09-04 22:14:06 所属题库:无损检测技术资格人员考试题库

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