方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）
锻件中有一缺陷，位于远场，由缺陷引起底波降低量的等级BG/BF=11Db，该锻件可以评为Ⅳ级。（）
用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）
对某厚度为50mm的上下面平行的钢锻件采用纵波垂直入射探伤时，发现某局部位置处的底波前沿不在50mm刻度处，而是在46mm刻度处，这可能是（）
某钢锻件经超声检测，其单个缺陷当量为Ⅱ级、底波降低量为Ⅰ级，密集区缺陷为Ⅲ级，则按照NB/T47013.3-2015标准规定，该锻件质量等级应评为Ⅲ级。
用超生波对饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度对工作底面有何要求？
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）
锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。
在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（）
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（）
0°探头探伤时，如发现孔波和底波交替不明显，就说明此螺孔有裂纹存在。
在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高（）db探伤？（晶片直径D=14mm）
锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（）
锻件探伤中，利用锻件底波调节探伤灵敏度有什么好处？对锻件有何要求？
锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
