X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使（）
γ射线源确定后，γ射线的波长分布和射线束强度还可以调节吗？（）
γ射线照相的优点是射线源尺寸小，且对厚度工作照相曝光时间短。
测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30°角，则计数管与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关系？
如果试样一定，射线底片的衬度决定于下列哪些因素？（）
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
对150毫米厚的钢试样进行射线照相检测时，一般采用哪种γ射线源？（）
当X射线源或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，（）也就没有辐射。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
γ射线源确定后，γ射线的波长分布和射线束强度是无法调节的，可改变的因素只有（）
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。
测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？
为了获得高清晰度的射线图像，在X射线机一定，即焦点尺寸一定，而且保证射线能量能够正常穿透的情况下，射线束朝向工件的方向和射线源到胶片的距离应（）
要满足几何不清晰度的要求，对于AB级而言，射线源至工件表面距离Ll至少应为（）（式中：d-射线源的尺寸，L2-工件表面至胶片的距离）。
试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好
由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）
用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。
由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为图像投影模糊。（)
射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了射线底片的黑度。（)
