变压器低电压试验验收进行介质损耗因数、电容量测量时,测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
进行直流电阻试验,可以检查和发现配电变压器分接开关三相是否同期、配电变压器三相绕组是否因少量匝间短路而导致三相直流电阻不平衡等缺陷。
测量变压器绕组的直流电阻的目的是:检查绕组接头及引线焊接质量,分接开关接触是否良好;匝间绝缘是否有短路。
局部放电带电测试是判断变压器绕组其是否存在扭曲、断股、移位、松脱等变形现象的有效方法。()
测量一台110kV电力变压器,高压绕组对中+低压绕组及地介损损tgδ,当tgδ不合格时,一般表明其高压套管tgδ不合格。
测量变压器绕组的直流电阻,是为了检查变压器的分接开关和绕组是否有异常情况。
测量装在三相变压器上的任一只电容型套管的介损和电容时,相同电压等级的(),将非测量的其他电压等级的绕组三相短路接地,否则会造成较大的误差。
采用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的介损tgδ时,其值主要反映()
测量35kV及以上全绝缘的电压互感器的介损tgδ,其绕组一次首尾端短接后加压,其余绕组首尾端短路接地,此方法一般称为()。
测量变压器绕组的直流电阻,可判断导线焊接质量、绕组短路、开关接触问题或引线接错等故障。
110(66)kV-220kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
测量CVT分接电容C2的介损和电容量时,C2的“δ”点接介损电桥的高压端,主电容C1高压端接介损电桥的“Cx”端,用正接线法测试。由于“δ”点绝缘水平有限,为保护“δ”,试验电压不超过()。
测量C1与C2相串联的电容式电压互感器绝缘介损时,一般情况下C1<C2/5,所以测量时主要反映(C1)的介损值。
变压器出厂验收阶段进行绕组对地及绕组间绝缘电阻测量,测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()。
35kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
对于一个绕组有分接开关的多绕组变压器,可只测量带分接开关绕组对一个绕组所有分接头的变压比,而对第三绕组只测()。
500(330)kV-1000kV变压器出厂验收时,应测量每一绕组连同套管对地及其余绕组间的介损、电容值,并将测试温度下的介损值换算到()℃。
测量变压器绕组的介损值时,介损测试仪应该使用正接法。()
35KV以上变压器在20℃时的介损因数为1.5%,35KV以下的同类变压器同温下的介损系数不应大于()。
当变压器电容型套管对地绝阻低于1000MΩ时,应测量末屏对地的介损,加压()。
高压为35kV以上变压器在20度时的介损系数为1.5%,高压为35kV以下的同类变压器同温下的介损系数应大于()%。
对于一种绕组有分接开关多绕组变压器,可只测量带分接开关绕组对一种绕组所有分接头变压比,而对第三绕组只测额定变压比。()
35kV变压器出厂验收时,绕组连同套管对地及其余绕组间的介损tgδ不大于()%
变压器绕组的测试验证引线及套管分接开关焊接及机械连接是否良好()