下列情况可产生系统误差的是（）。

A . A、使用的器皿不洁净 B . B、试剂中含有微量的待测组分 C . C、天平内温度的波动 D . D、滴定管漏水

A . 尺长不准确 B . 估读不准确 C . 尺端偏离直线方向 D . 两端拉力不均

A . A、天平本身有一定的变动性 B . B、所用砝码的标示值与真实质量不一致 C . C、天平箱内温度、湿度的微小变化 D . D、称量时把砝码数值看错了

A . 正确 B . 错误

A . A、看错刻度线造成误差 B . B、选错单位造成误差 C . C、用普通万用表测同一电压造成差 D . D、读数不当造成误差

A . 砝码被腐蚀 B . 试剂里含有微量的被测组分 C . 重量法测定SiO 含量是，试液中硅酸沉淀不完全 D . 天平的零点突然有变动

A . 尺长不准确 B . 尺不水平 C . 估读小数不准确 D . 尺垂曲 E . 尺端偏离直线方向

A .

A . 测定H C O ·H O摩尔质量时，H C O ·H O失水 B . 用NaOH标准溶液滴定HCl溶液时，滴定管内壁挂有水珠 C . 滴定前用标准溶液荡洗了锥形瓶 D . 用于标定溶液的基准物质吸湿

A . 反应温度调高 B . 试剂和保质期已过 C . 反应时间记录错误 D . 标本量加错 E . 分析仪器波长不准

A . 试样未经充分混匀 B . 滴定管的读数读错 C . 砝码未经校正 D . 所用试剂中有干扰离子

A . A.指示剂提前变色 B . B.重量法测定SiO ，试样中硅酸沉淀不完全 C . C.称量时试样吸收了水分 D . D.蒸馏水中含有杂质

A . A．样品中存在干扰物 B . B．天平未经校正 C . C．分析仪器波长不准 D . D．标本量加错 E . E．吸管未经校正

A . A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等 B . B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正 C . C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起 D . D、在滴定分析中，滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

A . 样品中存在干扰物 B . 天平未经校正 C . 分析仪器波长不准 D . 标本量加错 E . 吸管未经校正

A . 以HCl标准溶液滴定某碱样，所用滴定管未洗净，滴定时内壁挂液珠 B . 某试样称量时吸潮了 C . 以失去部分结晶水的硼砂为基准物质，标定HCl溶液的浓度 D . 以EDTA标准溶液滴定钙镁含量时，滴定速度过快

A . 系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等 B . 系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正 C . 仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差 D . 重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

A . A．反应温度调高 B . B．试剂的保质期已过 C . C．反应时间记录错误 D . D．标本量加错 E . E．分析仪器波长不准

A、标定完成后，最终读数时，发现滴定管挂有液珠 B、规定溶解邻苯二甲酸氢钾的蒸馏水为50ml，实际用量约为60ml C、最终读数时，终点颜色偏浅 D、锥形瓶中有少量去离子水，使邻苯二甲酸氢钾稀释

A．天平本身有一定的变动性 B．所用砝码的标示值与真实质量不一致 C．天平箱内温度、湿度的微小变化 D．称量时把砝码数值看错了

A．砝码被腐蚀 B．天平两臂不等长 C．天平称量时有一位读数估计不准 D．试剂中含有少量被测组分