为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为（）。
表面波探头用于探测工件（）缺陷。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。
为改变超声波传递透入工件的条件和透入工件的超声波能量，在探头和探测面之间施加一种介质，这种介质称为（）。
软保护膜探头适合用于粗糙表面的工件探伤。
（）有减小探头与工件表面间摩擦的作用。
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。
表面波探头用于探测工件表面缺陷。
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
为改变超声波传递透入工件的条件和透入工件的超声波能量，在探头和探测面之间施加一种介质，这种介质称为：（）
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
探头在工件探测面上用手工或自动移动的过程，称为（）。
在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
软保护膜探头适合用于（）的工件表面
直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。
在探头与工件探测面之间充填粘度较大的耦合剂或加入多层介质的耦合方法称为（）。
接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。
使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力（)
