方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。
钢轨探伤仪加上距离幅度补偿后，在基线刻度1和刻度3分别发现两缺陷的回波，回波距离和回波高度相同，那么这两个缺陷和当量相等。
根据（）和（）进行缺陷定量时，回波高度的测量应在仪器的（）以及（）的状态下进行。
缺陷所反射的回波大小只取决于缺陷大小。
对一个缺陷回波用对比试块中的平底孔作高度比较，其中一个试块的深度与缺陷深度相同，直径为4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，则缺陷当量的大小相当于：（）
焊缝斜角探伤时，焊缝中与表面成一定角度的缺陷，其表面状态对回波高度的影响是（）
在检测条件相同的情况下，某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同，则该缺陷的大小相当于（）平底孔。
用φ4平底孔标定钢轨探伤仪70°探伤灵敏度，发现一缺陷回波和φ4平底孔回波相当，该缺陷实际的大小为（）。
缺陷内含物的声阻抗对缺陷回波高度没有影响。
一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）
计算题：设工件中240mm处发现一缺陷，其回波高度与试块200mm处φ2平底孔反射波高相差—10dB，求此缺陷大小？
无损检测就是利用声、光、热、电、磁、射线检测被检物的宏观缺陷，并决定其位置、大小、形状和种类的方法。
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。
试述来自缺陷本身而影响缺陷回波高度的因素有哪些？
检测面的选择主要考虑缺陷取向，并结合工件形状和检测技术综合考虑。
缺陷所反射的回波大小取决于缺陷大小。
缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。
3、AVG曲线是描述规则反射体的距离—回波高度—当量大小的关系曲线，用AVG曲线进行缺陷定量的方法称为（）
缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。（）此题为判断题(对，错)。
在铸件、型材或成品上产生的气孔缺陷，根据气孔的的形状大小和分布特点，可把其分为（）3类
根据回波高度和声场反射规律进行缺陷定量时，回波高度的测量应在仪器的（)旋钮关闭以及（)旋钮不动的状态下进行。
