X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。
定量荧光分析仪样品分析操作中，岩样称重后应（）。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些？
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
粒子诱发X射线荧光分析（PIXE）有哪些干扰问题？
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
