在半导体工艺中,淀积的薄膜层应满足的参数包含有()。

A . 均匀性 B . 表面平整度 C . 自由应力 D . 纯净度 E . 电容

时间:2022-11-02 07:46:08 所属题库:集成电路制造工艺员(三级)题库

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