THDS-A红外轴温探测系统，在热靶标定结束之后至系统标定结束之前，如果发现内探盘温变化（）度以上，则需重新做内探热靶标定。
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线横坐标为（）。
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定共标定（）个点。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统制冷电流最大值为（)，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有（)种调整制冷方式。
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（）
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低（）
THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为热靶温度（）
THDS-C红外轴温探测系统轴温探头安装卡具，具有快装快拆的功能。（)
THDS-C红外轴温探测系统曲线检查时，曲线点数小于30个，热靶加热过快。（)
THDS-C探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（)。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（)。
THDS-C红外轴温探测系统采集的模拟信号通道数共（)路，采样频率采用10K/s。
THDS-BS红外轴温探测系统，在热靶标定结束之后至系统标定结束之前，如果发现内探板温变化（)度以上，则需重新做内探热靶标定。
THDS-C红外轴温探测系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。（)
THDS-C探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（)。
THDS-C设备（哈科所)探测站,红外轴温探测系统中（)的型号是PT100。
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统中探头插头松动不会造成（）
THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（）
THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统碲镉汞器件需要在低温条件下工作，以获得比较高的和信噪比，因此要对碲镉汞进行制冷，降低器件温度（）
THDS-C红外轴温探测系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。（)
THDS-C红外轴温探测系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每侧曲线存储102条。（)
THDS-C红外轴温探测系统数字IO卡性能要求：32路出，32路入，光电隔离。（)
THDS-BS红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（)。
