THDS-A红外轴温探测系统如果出现靶温故障，应测量故障一侧的铂电阻，其阻值应在（）欧姆之间（环温在0～40℃之间）。
THDS-A红外轴温探测系统盘温正常值范围是（），应比环温高0～+20℃。
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
THDS-A红外轴温探测系统盘温正值范围是（），应比环温高0～+20℃。
THDS-C红外轴温探测系统峰峰偏大时，说明此时探头距离轨内侧距离偏小或7度夹角偏大。（)
THDS-C探测站,红外轴温探测系统制冷电流最大值为（)，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有（)种调整制冷方式。
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（）
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低（）
THDS-BS红外轴温探测系统报环温故障时可能出现故障的部件有（)。
THDS-C红外轴温探测系统轴温探头安装卡具，具有快装快拆的功能。（)
THDS-C红外轴温探测系统曲线检查时，曲线点数小于30个，热靶加热过快。（)
THDS-C探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（)。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（)。
THDS-C红外轴温探测系统采集的模拟信号通道数共（)路，采样频率采用10K/s。
THDS-BS红外轴温探测系统如果环温故障，现象是环温150℃，用万用表测量环温传感器铂电阻阻值为10MΩ，则需要（)。
THDS-C探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（)。
THDS-C设备（哈科所)探测站,红外轴温探测系统中（)的型号是PT100。
THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统中探头插头松动不会造成（）
THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（）
THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统碲镉汞器件需要在低温条件下工作，以获得比较高的和信噪比，因此要对碲镉汞进行制冷，降低器件温度（）
THDS-C红外轴温探测系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。（)
THDS-C红外轴温探测系统采用热靶标定的自适应温度标定方法，实时获得轴温计算标准，使系统能够自动适应探头工作状态的变化，使轴温计算准确。（)
THDS-C红外轴温探测系统数字IO卡性能要求：32路出，32路入，光电隔离。（)
