色散型X射线荧光光谱仪分为（）。
波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。
能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。
能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。
用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
能量色散X射线荧光光谱仪的Si（Li）检测器和前置放大器在室温下锂原子会在硅中扩散，由此影响检测器的性能。因此必须放置在液氮中，使电子噪声降低至可接受水平。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
【填空题】分析下列荧光辐射产生的可能性，在不考虑能量损失的情况下： （1）用CuKαX射线激发 ； （2）用CuKβX射线激发 ； （3）用CuKαX射线激发 。
