X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
X射线荧光分析根据激发源的不同，可分成哪几类？
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和
【填空题】分析下列荧光辐射产生的可能性，在不考虑能量损失的情况下： （1）用CuKαX射线激发 ； （2）用CuKβX射线激发 ； （3）用CuKαX射线激发 。
