单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。

A . 近场干扰 B . 材质衰减 C . 盲区 D . 选择范围

时间:2022-10-19 14:46:25 所属题库:无损探伤工(初级)题库

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