为甄选合格电子元器件,出厂前必须进行元器件的寿命及各种试验。气候试验:密封性试验、温度循环试验、热冲击试验、气压试验、潮热试验、盐雾试验;机械试验:振动、冲击、离心、碰跌落等;长期寿命试验:1000 小时以上的试验时间;可靠性筛选试验:采用外加应力将电子元件成品中潜在的早期失效产品剔除,从而分选出具有高可靠性产品。上描述没有涉及的试验方法是()

A、优选试验法 B、模拟试验法 C、虚拟试验法 D、强化试验法

时间:2023-01-11 11:07:48

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