原子荧光光谱和原子吸收光谱仪在结构上的主要区别是()
X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁,加入()元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰,确保全铁测定准确。
利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析。
X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是()。
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是()。
在ICP光谱分析中,化学干扰是主要干扰
原子吸收干扰中的光谱干扰分()和背景干扰。
化学干扰是原子吸收光谱分析中的()干扰。
在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
ICP-AES法中的光谱干扰主要存在哪几种类型?
X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().
()是原子吸收光谱分析中的主要干扰因素。
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是:()
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
下述哪种干扰在原子荧光光谱法中比原子吸收光谱法更严重()
原子吸收和原子荧光分析的光谱干扰比火焰发射分析法的光谱干扰()。
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
ICP光谱分析中的化学干扰,比起火焰原子吸收光谱或火焰原子发射光谱分析要轻微得多,因此化学干扰在ICP发射光谱分析中可以忽略不计。()
不能消除原子荧光光谱中干扰谱线的方法()
原子吸收光谱中的背景干扰产生的原因是()。
5、原子荧光与原子吸收光谱仪结构上的主要区别是