X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
A130826nm（1）的谱线强度为8级，309.27nm（I）的话线强度为9级。采用光谱分析确定试样中A1是否存在时，若前一谱线在试样谱带中小现而后一谱线末出现，可判断试样中有A1存在。
X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（）其比例是95%：5%。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
X射线光谱分析中是以特征光谱线为（）
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和
不能消除原子荧光光谱中干扰谱线的方法（）
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
