方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）
在使用水洗型荧光渗透液和干式显像剂的标准检测设备中，黑光灯应放在（）
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。
为检出高强度钢螺栓螺纹部分的周向缺陷，磁粉探伤时一般选择：线圈法、剩磁法、荧光磁粉、湿法。
荧光探伤是借助于残留在零件缺陷内的（）在紫外线照射下发出的荧光来显示缺陷。
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）
对非常光滑的表面进行荧光探伤时，使用哪种显像剂最好？（）
荧光探伤时，由于荧光液和显像粉的作用，缺陷处出现强烈的荧光，根据发光程度的不同，就可以确定缺陷的（）。
荧光渗透探伤使用水洗型渗透剂和湿式显像剂时，正确的操作工序是：（）、（）、（）、（）、（）、（）；当使用后乳化型渗透剂时，在（）和（）工序之间需进行乳化处理。
在下面诸渗透探伤步骤中指出正确的步骤，使用水洗型荧光渗透液、湿式显像剂（）
在使用水洗型荧光渗透液和干式显像剂的标准检验设备中，黑光灯应放在（）
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）
渗透探伤根据显像剂类型可分为荧光显像、着色显像。
锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。
荧光探伤是用来发现各种焊接接头的（）缺陷。
荧光探伤时的最后操作是（），以显示零件上的缺陷。
表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）
渗透探伤根据显像剂类型可分为荧光显像、着色显像。此题为判断题(对，错)。
锻件探伤中，荧光屏上出现（）是由于工件材料晶粒粗大
