光度法和ICP－AES分析钢中硅，分解试样时应注意采用稀酸并低温加热。

ICP-AES等离子分析仪不用于（）测定。

用ICP－AES法测定水中金属元素时，测定之前如果对试样进行了富集或稀释，应将测定结果除以或乘以一个相应的倍数。

影响ICP－AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）、（）。

用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。

用ICP-AES法测定水中金属元素时，配制分析用的单元素标准贮备液和中间标准溶液的酸度应保持在0．1mol／L以上。

用ICP-AES法测定金属元素总量时，对于污水应取含悬浮物的均匀水样，对于地表水应待自然沉降（）min后，取上层非沉降部分分析。

ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。

ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。

ICP—AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。

影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。

ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。

用ICP-AES法测定水中金属元素时，测定之前如果对试样进行了富集或稀释，应将测定结果除以或乘以一个相应的倍数。

火花直读原子发射光谱分析方法与ICP-AES分析方法相比较，其特点是（）

用ICP－AES法测定水中金属元素时，配制分析用的单元素标准贮备液和中间标准溶液的酸度应保持在0.1mol/L以上。

若生铁中硅含量大于2.0%，采用还原型硅钼酸盐光度法测定生铁中硅含量，在熔解生铁试样时，称取生铁样（）

用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。

用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。

电感耦合等离子体原子发射光谱法（简称ICP-AES），是以电感耦合等离子炬为激发光源的一类光谱分析方法。

用ICP-AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。

ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。

测定钢中硅的含量，称取3g，试样得到不纯的SiO2沉淀0.1257g，用氢氟酸和H₂SO₄处理，使SiO₂变成SiF₄↑挥发后，得到残渣为0.0008g，计算试样中硅的百分含量。（Si的原子量为28.082）

ICP-AES法常用分解样品的方法有哪几种（）

ICP-AES分析过程的第一步是（）