当某一光谱中包含有某元素的谱线时，则该元素一定存在于产生该光谱的物质之中。
在罗马金公式I=acb中，b表示与谱线自吸有关的常数。当b=（）时，表示此时谱线强度与元素含量无关，当b=（）时，表明谱线无自吸，此时谱线强度与元素含量呈线性关系。
A130826nm（1）的谱线强度为8级，309.27nm（I）的话线强度为9级。采用光谱分析确定试样中A1是否存在时，若前一谱线在试样谱带中小现而后一谱线末出现，可判断试样中有A1存在。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。
在火花光源作用下，金属试样中分析元素的谱线强度并不能在试样激发后立即达到稳定，而须经过一段时间方趋于稳定，这种现象称为（）
用发射光谱法测定某材料中的Cu元素时，得铜的某谱线的黑度值（以毫米标尺表示）为S（Cu）=612，而铁的某谱线的黑度值S（Fe）=609，此时谱线反衬度是2.0，由此可知该分析线对的强度比是（）。
原子吸收分光光度法中，元素的谱线数目，取决于（）。
在原子吸收光谱分析过程中，被测元素的原子质量愈小，温度愈高，谱线的热变宽将（）。
在发射光谱分析中，仪器所测得的谱线是原子（）过程中产生的。
设某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的两条光谱线，当用一光栅常数（a+b）=5．00×10-6m的光栅观测其光谱时，发现这两种波长的谱线有重叠现象，在下列结果中，正确描述重叠处λ2谱线级数的是（）。
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
原子发射光谱分析法是依据（）的特征光谱进行定性分析，是依据谱线的强度定量分析。原子光谱是（）光谱的根本原因是原子能级是不连续的，电子跃迁也是不连续的。狭缝宽度是影响谱线强度和分辨率的主要因素。在光谱定性分析中并列（）的目的是用铁的谱线作为标尺，以确定谱线的波长及其所代表的元素。
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。
元素周期表中各种元素的谱线是有规律排列的，并以K，L，M，N…表示若干谱系，对于一个给定的元素，各谱系的能量是：K＜L＜M＜N…
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
谱分析中有自吸现象的谱线，在试样中元素的含量增多时，自吸程度将（）.
某元素的特征光谱中含有波长分别为l1=450nm和l2=750 nm的光谱线。在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象，重叠处l2的谱线的级数将是（ ）。 （1nm=10-9m）
原子吸收光谱仪的空心阴极灯发射出一定强度和一定波长的供待测元素吸收的特征谱线，由原子化器将待测元素原子化，并吸收光源中的部分特征谱线，由分光系统和检测系统完成待测元素吸光度的测定。（)
8、某元素的特征光谱中含有波长分别为450nm和750nm的光谱线，在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象。重叠处的谱线数是：
设C/C++二维数组a[m][n]，每个数组元素占用k个存储单元，第一个数组元素的存储地址是LOC（a[0][0])，求按行优先顺序存放的数组元素a[i][j]（0≤i≤m-1，0≤j≤n-1）的存储地址为（）。
某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1＝450nm和λ2＝750nm（1nm＝10－9m）的光谱线。在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象，重叠处λ2的谱线的级数将是（）
