当某一光谱中包含有某元素的谱线时，则该元素一定存在于产生该光谱的物质之中。
X射线波长与元素原子序数的平方成（），因此，可根据其波长确定元素。
元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成（）。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是（）定律。此定律成为X射线光谱（）分析的基础。
比较两条单色的X射线的谱线时注意到，谱线A在一个晶体的光滑面成30°的入射角处给出第一级反射极大，已知谱线B的波长为0．97 https://assets.asklib.com/psource/2015102709205848832.jpg ；谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的入射角处，给出第三级反射极大。谱线A的波长为：（）
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
设某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的两条光谱线，当用一光栅常数（a+b）=5．00×10-6m的光栅观测其光谱时，发现这两种波长的谱线有重叠现象，在下列结果中，正确描述重叠处λ2谱线级数的是（）。
每种元素的特征谱线有（）。
当恒星离我们而去时，它的谱线波长增加，称之为（）。当恒星向着我们而来时，它的谱线波长减少，称之为（）。
原子发射光谱分析法是依据（）的特征光谱进行定性分析，是依据谱线的强度定量分析。原子光谱是（）光谱的根本原因是原子能级是不连续的，电子跃迁也是不连续的。狭缝宽度是影响谱线强度和分辨率的主要因素。在光谱定性分析中并列（）的目的是用铁的谱线作为标尺，以确定谱线的波长及其所代表的元素。
原子的K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可以产生一系列的谱线，称为（）谱线。
连续X射线光谱又称白色射线，它由某一短波限λo开始直到波长等于无穷大λ∞的一系列波长组成。下列对连续X射线的规律和特点描述正确的是（）
特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
氢原子光谱的巴耳末系中波长最大的谱线和波长次大的谱线的波长的比值为（ ）。
特征X射线的信号特征是：能量或波长与样品中元素的原子序数有对应关系，而且强度随着对应元素含量的增大而增大。
某元素的特征光谱中含有波长分别为l1=450nm和l2=750 nm的光谱线。在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象，重叠处l2的谱线的级数将是（ ）。 （1nm=10-9m）
8、某元素的特征光谱中含有波长分别为450nm和750nm的光谱线，在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象。重叠处的谱线数是：
某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1＝450nm和λ2＝750nm（1nm＝10－9m）的光谱线。在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象，重叠处λ2的谱线的级数将是（）
