X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
用于动力装置油料分析的光谱仪按其对光谱分析方法的应用可分为（）。 Ⅰ．X射线荧光光谱分析； Ⅱ．原子吸收光谱分析； Ⅲ．发射光谱分析。
X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和
