平板工件X射线照相，若透照厚度比满足1.1，则透照一次的有效长度可用（）式计算（式中：L-透照有效长度；F-焦距）
设入射线强度为I0，透过射线强度为I，散射线强度为Is，则散射比n定义为（）。
DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
下列伽马射线源中适合透照厚度为60-150毫米钢工件的是（）
射线检测就是利用射线（X射线、γ射线、中子射线等）穿过材料或工件时的强度衰减，检测其（）不连续性的技术。
根据X射线机的X射线束辐射角θ，计算透照场范围的公式为（）。
在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
连续x射线透照工件时，以下叙述正确的是（）。
窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。
高能x射线或γ射线透照，若需要增感时，一般应选用（）。
能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。
对形状复杂和厚度差大的零件进行射线透照时，为了减少射线束中易产生散射的软射线的影响，可采用（）。
连续谱X射线透照工件时，随着透照厚度的增加，总的强度递减，而平均波长值（）。
连续宽束X射线透照试件，试件的厚度越大，则散射比越大，平均衰减系数（）。
当射线通过厚度为X的物质后，射线强度的衰减规律是：（）（式中：μ-线吸收系数[衰减系数]；e-自然对数的底；I0-射线原有的强度；I-射线通过物质后的强度）
设宽束X射线贯穿物体后，在某一点所接收到的射线总强度为Ip=I+Is，则散射比为（）。
使用γ射线或高能Χ射线透照厚工件时，胶片类型和胶片（）的选择十分重要。
射线透照时，选择X射线最高管电压所依据的厚度为W。（)
在相同射线能量下，透照厚度增大，散射比增大。（)
射线成像检测时每组有效的X 射线图像应做好标记，包括线路名称、（）、接头、电缆本体编号、相别、透照日期等信息。
当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为（)A.I=I0e-μdB.I=I0e-2μdC.I
4、用强度为I，波长为l 的X射线（伦琴射线)分别照射锂（Z = 3)和铁（Z = 26)．若在同一散射角下测得康普顿散射的X射线波长分别为lLi和lFe （lLi，lFe ＞l)，它们对应的强度分别为ILi和IFe，则
用单壁法外透照环焊缝时，所有搭接标记应放在射线源侧工件表面，以免端部缺陷漏检（）
用连续宽束X射线透射试件，试件的厚度越大，则散射比n越大。（)
