集成运放的开环电压增益非常高，这些参数接近理想化的程度。（）
当被测件为球形时，测量仪器的测头通常选（）。如果被测件为矩形时，测量仪器的测头则通常选（）。
用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。
阿贝原则是：如果要使量仪得出正确的测量结果，那么必须将仪器的读数刻度尺安放在被测件的垂直位置上。（量具知识）
确定被测件的形位公差时，在满足功能要求的前提下，轴的形位公差应比孔（）
对某被测件的长度重复测量10次，得到测量列如下：10.0006m、10.0004m、10.0008m、10.0002m、10.0003m、10.0005m、10.0005m、10.0007m、10.0004m、10.0006m，用贝塞尔公式估算实验标准偏差为（）.
被测平面出现弯曲的干涉条纹时，当切线与三条干涉条纹相交，其平面度偏差为（）。
用螺纹塞规检验工件时（），被测件为合格。
用游标卡尺的外径测量爪测量工件的内尺寸时，被测件的实际尺寸为卡尺的读数（）内外测量爪的厚度尺寸。
用游标卡尺的内外测量爪测量内尺寸时，被测件的实际尺寸为卡尺读数（）内外测量爪的厚度尺寸。
标准件的精度要求较高，一般应比被测件的精度高二级左右，同时还应有较高的（）。
用钢直尺测量圆柱体零件长度时，应使钢直尺刻线纵边与被测件的轴线应（）。
通常鞍形干涉条纹表示平面度为（）条光带。
投影仪将被测件由物镜成象于（）。
径向：除特殊情况外，被测件为半圆，径向是指半径；被测件为整圆，径向是指直径。
用于检测零部件尺寸上偏差的测量器的基本尺寸仍应是被测件的基本尺寸。
光学平直仪测量被测件的误差值,是通过的()反映出来的。
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
集成运算放大器的开环电压增益非常高，它的输出电阻很大，输入电阻很小，这些参数接近理想化的程度。
若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。
干涉光带为（)，表明被测件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。(A)直带
测量时对游标卡尺与被测件的接触力的要求是（）
D022/D023/D024内圈测量仪测量被测件的沟径、沟位、椭圆度、测摆（）
D923A/D924A/D925A（内径测量仪）测量被测件的内径尺寸、椭圆度、锥度（）
