当被测件为球形时，测量仪器的测头通常选（）。如果被测件为矩形时，测量仪器的测头则通常选（）。
用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
用白光光源进行双缝干涉实验，若用一个纯红色的滤光片遮盖住一条缝，用一个纯蓝色的滤光片遮盖住另一条缝，则将发生何种干涉条纹现象？（）
被测平面出现弯曲的干涉条纹时，当切线与三条干涉条纹相交，其平面度偏差为（）。
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
园杠是截面为园形的（）
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
干涉光带为（），表明被测件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面
将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
长度计量中引起被测件和测量器具的变形，主要是由于（）
使用Q表时候，手不要靠近被测件，以免人体感应的影响造成测量误差。有屏蔽的被测件，屏蔽罩应连接在（）电位器的接线柱上。
光学平直仪测量被测件的误差值,是通过的()反映出来的。
用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整
如图所示，两个直径有微小差别的彼此平行的滚柱之间的距离为L，夹在两块平晶的中间，形成空气劈尖，当单色光垂直入射时，产生等厚干涉条纹，如果滚柱之间的距离L变小，则在L范围内干涉条纹的（）https://assets.asklib.com/images/image2/201706131117361052.jpg
在双缝干涉实验中，如果垂直于缝面上下移动双缝前方的单缝，则干涉条纹的变化是:
干涉光带为（)，表明被测件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。(A)直带
1、用氪灯的光606nm作为迈克尔逊干涉仪的光源来测量某间隔的长度，当视场有3000条条纹移过时，被测间隔的长度为？
某测量时被测件是静止不动的,据此判断此测量的方法为（）
