X射线荧光光谱仪由光源、（）、（）和谱仪控制与数据处理系统组成。
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。
利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
在X射线荧光光谱仪的分光系统中，一般有（）个准直器。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。
柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪的准直器包括（）
设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
