X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
当用X射线照射物质时，除了发生（）等现象外，还能产生特征X射线荧光。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
X射线光谱分析中是以特征光谱线为（）
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。
特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
【判断题】X射线荧光光谱仪可以有效地检测注油祖母绿。
