原子荧光光谱是（）
原子荧光光谱和原子吸收光谱仪在结构上的主要区别是（）
原子荧光光谱仪的光源是（）
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。
X射线荧光光谱分析时，原子序数低的元素，其检出限及其测量误差一般都比原子序数高的元素好。
为什么荧光光谱比吸收光谱更灵敏？
在分子荧光光谱法中，增加入射光的强度，测量灵敏度（）原因是（）。
荧光光谱是物质分子（）
X荧光光谱、ICP光谱、原子吸收光谱分析方法的特点是既可测量低含量元素，又可以准确测量高含量元素。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
AxiosX荧光光谱仪开始测量的真空度为：（）。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）。
荧光物质的荧光光谱和它的吸收光谱的形状是（）
荧光光谱是物质分子（）。
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）
X射线荧光光谱仪电子测量系统由（）、放大器、（）和记录系统构成。
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
在荧光光谱中，测量时，通常检测系统与入射光的夹角呈（）。
波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示。
用紫外光谱法定量时，测量最便宜的吸光度的范围是0.2~0.7的依据是什么？
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
在原子吸收光谱法的理论中，以谱线峰值吸收测量替代积分吸收测量的关键条件是什么？（)
