控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）
属于X线发生装置的是（）用于屏蔽不必要原发射线的装置是（）能够吸收摄影时人体产生的散射线的是（）
散射线会影响射线照相底片的（）。
背散射的主要成分是低能射线，这种低能射线是由（）过程产生的
下列哪种是射线照相对散射的最佳改善方法？（）
在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
在射线照相中，最大的散射源来自（）
控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）
各种效应对射线照相质量产生的影响是：（）
射线照相时，对人体的主要危害来自于（）
康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
对形状复杂和厚度差大的零件进行射线透照时，为了减少射线束中易产生散射的软射线的影响，可采用（）。
穿过试件较薄截面的射线会在相邻厚截面下产生散射，从而对厚截面的影象产生影响，这种影响称为（）
在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、（）和减少散射线对底片的影响。
在10～100keV光子能量范围内，光子能量在10keV时光电吸收力95%以上，康普顿吸收为5%。光子能量为100keV时，康普顿吸收占95%以上。射线因素（线质、线量、散射线）对影像信息的影响正确的是（）
在射线检测工作中，（）和电子对效应引起的射线吸收有利于提高照相对比度，而（）产生的散射线会降低照相对比度。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。
计算题：射线照相底片上无缺陷部位的黑度为2.6，缺陷部位的黑度为3.0，已知散射比n=1，吸收系数μ=2cm-1，胶片反差系数r在该黑度范围内为3，求缺陷的厚度是多少？（设缺陷对射线的吸收不计）
射线照相法是利用射线穿透过物体时，会发生吸收和散射这一特性，通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收实现探测缺陷的目的。
晶体中各电子受X射线照射所产生的相干散射线相互干涉的总结果称为( )
发生康普顿效应后，康普顿散射光子的能量降低，方向改变，因此，在γ照相中，可导致对显示的组织与病灶的错误定位，并且使影像模糊。由于散射光子的能量低于原来γ射线，所以可以通过调节能窗大小消除大部分散射效应，但与入射γ光子能量相近的小角度散射的康普顿散射光子的影响不易消除。
散射线对照相底片的影响主要降低射线照相的（）
