通常可用来做X射线荧光分光晶体的是（）。
在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。
利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.
在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（）其比例是95%：5%。
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。
X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。
在X射线荧光光谱仪的分光系统中，一般有（）个准直器。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。
Ｘ射线荧光光谱仪中，P-10气体是供给（）计数器使用的。
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
