1、MOSFET的饱和区漏极电流ID 随 VDS 的增大而略有增大,是由于什么原因引起的:()。

A.基区宽度调变效应 B.漏区静电场对沟道的反馈 C.有效沟道调制效应 D.阈电压的短沟道效应

时间:2023-12-22 17:51:11

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