在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。
波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
比较两条单色的X射线的谱线时注意到，谱线A在一个晶体的光滑面成30°的入射角处给出第一级反射极大，已知谱线B的波长为0．97 https://assets.asklib.com/psource/2015102709205848832.jpg ；谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的入射角处，给出第三级反射极大。谱线A的波长为：（）
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）
波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示。
特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
氢原子光谱的巴耳末系中波长最大的谱线和波长次大的谱线的波长的比值为（ ）。
要使处于基态的氢原子受激发后能发射赖曼系（由激发态跃迁到基态发射的各谱线组成的谱线系）的最长波长的谱线，至少应向基态氢原子提供的能量是（ ）。
1、氢原子光谱的巴耳末线系中谱线最小波长与最大波长之比为
