X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
氢原子光谱的可见光区谱线称为巴尔麦线系。
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。
X射线光谱分析中是以特征光谱线为（）
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
原子发射光谱分析法是依据（）的特征光谱进行定性分析，是依据谱线的强度定量分析。原子光谱是（）光谱的根本原因是原子能级是不连续的，电子跃迁也是不连续的。狭缝宽度是影响谱线强度和分辨率的主要因素。在光谱定性分析中并列（）的目的是用铁的谱线作为标尺，以确定谱线的波长及其所代表的元素。
与光谱线强度无关的因素是（）。
波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
氢原子光谱的巴耳末系中波长最大的谱线和波长次大的谱线的波长的比值为（ ）。
要使处于基态的氢原子受激发后能发射赖曼系（由激发态跃迁到基态发射的各谱线组成的谱线系）的最长波长的谱线，至少应向基态氢原子提供的能量是（ ）。
原子吸收光谱仪的空心阴极灯发射出一定强度和一定波长的供待测元素吸收的特征谱线，由原子化器将待测元素原子化，并吸收光源中的部分特征谱线，由分光系统和检测系统完成待测元素吸光度的测定。（)
8、某元素的特征光谱中含有波长分别为450nm和750nm的光谱线，在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象。重叠处的谱线数是：
计算巴耳末系中四条可见光谱线的波长。（里德伯常量R=
氢与其同位素氘（质量数为2)混在同一放电管中，摄下两种原子的光谱线，试问其巴耳末线系的第一条
He+离子光谱毕克林系和氢原子巴耳末系光谱，下列表述哪些是正确的？ A 两个线系光谱线都是随着波数增加由疏到密； B 两个线系光谱线都是随着波数增加由密到疏； C两个线系的有些谱线近似重合，但是有一些差别，是因为核电荷数修正引起的 D 两个线系的有些谱线近乎重合，但是有一些差别，是因为核质量修正引起的 E He离子光谱线比氢原子光谱线多，是因为核电荷数修正引起的 F He离子光谱线比氢原子光谱线少，是因为核电荷数修正引起的
1、氢原子光谱的巴耳末线系中谱线最小波长与最大波长之比为
