显像时间取决于显像剂的种类，预计的（）以及被检物的（）等因素
采用照像记录被检物表面缺陷时，应注意在被检物上不妨碍察看缺陷的位置安放（）
下面哪种适用于干燥被检物？（）
目视检验照像时必须注意被检物的（）以及摆放（）
适用于干燥被检物的方法是（）。
ELISA竞争法样品的吸光度与被检物成（）。
底片的选择除了需要依照被检物的组合情况、形态、影像灵敏度以及合约规范要求外，还需考虑（）
直接目视检验要求检验员视线与被检物之夹角不得大于（）
在双能量X射线探测设备主要是利用了射线和物质相互作用的光电吸收效应，设备测量穿过被检物品而衰减的X射线的强度，并由X射线传感器将X射线信号转换成可处理的（），从而得到被检物的X射线透射投影图像。
取样的数量的确定应考虑（）、分析方法的要求和被检物的均匀程度。
表面清理是指清理被检物表面的（），预清洗是指清洗被检物表面的（）
清洗处理和去除处理是为了去除附着在被检物表面残余的（）。
按ZBJ 04005-87标准规定，干燥处理被检物表面的干燥温度应控制在不大于（）℃范围
X射线安全检查设备是利用X射线和（）相互作用时发生的光电吸收、康普顿散射、瑞利散射和电子对效应从而得到被检物的特征信息。
无损检测就是利用声、光、热、电、磁、射线检测被检物的宏观缺陷，并决定其位置、大小、形状和种类的方法。
（）显示痕迹，指渗入缺陷中的渗透剂在被检物表面析出时呈现的痕迹。
按日本JIS规定，被检物厚度30mm时，底片合格黑度应为（）
使用水基显像剂时，被检物表面（）
X射线CT设备不仅能得到被检物的（），还可以得到被检物断层图像以及三维图像。
清洗处理和去除处理是为了去除附着在被检物表面的残余（）
GB 5097-85标准适用于检查黑光源的强度，并可在荧光磁粉和荧光渗透探伤时，检查被检物表面上的黑光强度以及渗透荧光性能的变化（）
进行目视检测时首先应对被检物的（）进行处理，以免妨碍观察检验
要使底片的缺陷图像清晰,X射线管的焦点要大,被检物与焦点之间的距离要短,被检物与胶片的距离要远。（)
